光學顆粒計數(shù)器具有先進水平的光阻與角散射結合的顆粒計數(shù)器。由于大顆粒對光的遮擋作用較強，所以光阻法主要用來測試40-400μm的較粗和粗顆粒；由于細顆粒對光的散射作用較強，所以角散射法主要用來測試0.5-40μm的細顆粒。兩種測試方式相互結合，相互印證，拓展了儀器測量范圍同時也確保了測量的準確性。光學顆粒計數(shù)器具有激光照明光學傳感器，通過使用固態(tài)傳感器捕獲來自每個粒子的散射光，允許對單個粒子進行采樣。你知道有幾種方式可以對光學顆粒計數(shù)器進行檢測嗎？
光散射：
光散射是指光線通過不均勻的介質而偏離其原來的傳播方向并散開到所有方向的現(xiàn)象。產生散射光，顆粒大時散射光信號強，散射光光強與顆粒粒徑成正比。
優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可實現(xiàn)在線測量和干法測量。
缺點：結果受分布模型影響較大，儀器造價較高。
動態(tài)圖像法：
由顯微鏡、高速攝像機、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。
優(yōu)點：顆粒圖像直觀清晰，操作簡便、拍攝與分析速度快、重復性和準確性好，可干法也可濕法，可測量最大顆粒，可進行圓形度、長徑比等形貌分析。
缺 點：分析細顆粒(如-2 μm )圖像不清晰，誤差較大，成本較高。
靜態(tài)圖像法(顯微鏡法)：
由顯微鏡、攝像機和圖像分析軟件組成。
優(yōu)點：成本較低，操作簡單，圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。
缺點：分析速度慢，無法分析細 顆粒(如-2 μm )。
電鏡法：用電子顯微鏡(掃描電鏡或透射電鏡)拍攝顆粒圖像，然后再進行圖像 分析的方法。
優(yōu)點：能精確分析納米顆粒和超細顆粒，圖像清晰，表面紋理可見，分辨率高，是表征納米材料粒度的標準方法。
缺點：單幅圖像中的顆粒數(shù)少、代表性差、儀器價格昂貴。
光阻法：
當液體中的微粒通過一窄小的檢測區(qū)時，與液體流向垂直的入射光，由于被不溶性微粒所阻擋，從而使傳感器輸出信號變化，這種信號變化與微粒的截面積成正比，光阻法檢查注射液中不溶性微粒即依據(jù)此原理。
優(yōu)點：測試速度快，可測液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高，樣品用量少。
缺點：進樣系統(tǒng)比較復雜，不適用粒徑<1μm 的樣品。
電阻法：
電阻法(庫爾特)顆粒計數(shù)器粒度測量原理是小孔電阻原理。小孔管浸泡在電解液中，小孔管內外各有一個電極，電流通過孔管壁上的小圓孔從陽極流到陰極。小孔管內部處于負壓狀態(tài)，因此管外的液體將流動到管內。測量時將顆粒分散到液體中，顆粒就跟著液體一起流動。當其經過小孔時，小孔的橫截面積變小，兩電極之間的電阻增大，電壓升高，產生一個電壓脈沖。當電源是恒流源時，可以證明在一定的范圍內脈沖的峰值正比于顆粒體積。儀器只要測出每一個脈沖的峰值，即可得出各顆粒的大小，由各脈沖值即可統(tǒng)計出粒度的分布。
優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。
缺點：不適合測量超細樣品和寬分布樣品，更換小孔管比較麻煩。
沉降法：
沉降法是指粒度分析(settlinganalysis)通過檢測物料顆粒在介質中的沉降速度進行物料粒度分析，確定其粒度組成的技術。
優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格較低，準確性和重復性較好，測試范圍較大。
缺點：測試時間較長，操作較復雜，結果易受環(huán)境因素影響。
篩分法：
將解散后的碎屑顆粒倒人一套孔徑不同的標準篩中，通過充分振篩，將不同粒級的碎屑顆粒充分分開，稱量各粒級碎屑顆粒質量，求得碎屑顆粒的粒度分布范圍。
優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低，常用于大于 38 μm (400 目)的樣品。
缺點：不能用于超細樣品；結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
動態(tài)光散射法：
動態(tài)光散射法是測試納米材料粒度分布的常用方法。首先將納米顆粒放到合適的液體(通常為純凈水)中制成懸浮液，懸浮液中的納米顆粒由于受到 水分子熱運動(布朗運動)的碰撞而進行不規(guī)則運動。當一束水平偏振的激光照射到這些顆粒上時，會在引起的散射光強的瞬間變化。這些瞬間變化的散射光信號的幅度、頻率等特征與顆粒大小有關，對這些信號進行相關運算就可以得到呢米顆粒的粒度分布了。.
優(yōu)點：測試范圍寬(從納米到微米)、測試速度快，重復性好，操作簡便。缺點：測試寬分布的納米材料誤差及較大。
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