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Zeta電位儀廠家供應(yīng)的BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統(tǒng)。
BT-Online2在線激光粒度監(jiān)測與控制系統(tǒng)由測試主機、電腦、取樣系統(tǒng)、回收系統(tǒng)、電路與氣路控制系統(tǒng)、機柜等部分組成。系統(tǒng)可在電腦控制下自動取樣、自動測試、自動回收、遠程傳輸測試結(jié)果等。通過設(shè)定SOP流程系統(tǒng)可在無人值守狀態(tài)下自動運行。它在數(shù)據(jù)異常時系統(tǒng)會自動報警提示,在研磨設(shè)備具有信息化控制終端時,本系統(tǒng)還可對研磨系統(tǒng)實施控制,實現(xiàn)粒度監(jiān)測與控制同步,保證產(chǎn)品粒度穩(wěn)定。
Bettersize3000激光圖像粒度粒形分析儀還具有折射率測量技術(shù)、自動測試技術(shù)、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗技術(shù)、顆粒圖像快速識別技術(shù)、樣品復配技術(shù)等,綜合性能達到或超過進口儀器水平,特別適合大企業(yè)、高校、研究院所等實驗室。
Bettersize2600干濕二合一激光粒度分析儀是一種采用百特的正反傅里葉結(jié)合光路系統(tǒng)的智能化激光粒度儀。正反傅里葉結(jié)合光學系統(tǒng)的最大特點是用單激光束實現(xiàn)了前向、側(cè)向和后向散射光信號的全角度接收——這是百特原創(chuàng)的技術(shù)。這種技術(shù)不僅達到了進口儀器的用多光束技術(shù)來擴大散射光角度的效果,還避免了多光束技術(shù)造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差
Bettersize2000激光粒度儀是一種采用雙鏡頭技術(shù)的一體化激光粒度儀。它的散射光發(fā)生與探測系統(tǒng)是由一個大功率光纖半導體激光器、樣品池、兩個高精度的進口透鏡組和兩組光電探測器陣列組成。這種光學系統(tǒng)能在單光束狀態(tài)下使前向和后向散射光信號都能被同時有效接收,同時高精度透鏡組保證了即使是很微弱的散射光信號都能有效地匯聚到探測器上,使儀器的量程、重復性、準確性和分辨力等主要指標都達到國際同類儀器水平
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統(tǒng)。